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X熒光光譜儀通常用以下幾種方法分離熒光

更新時間:2021-10-15點擊次數:1115
  X熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法,是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學,法醫學,考古學和藝術品,例如油畫和壁畫。
  X熒光光譜儀通常用以下一種或幾種方法來分離熒光:
  1、90°布置法:激發光和探測器90°方向布置。由于熒光沒有方向性,它向四周發射,因此可以把探測器放在與激發光成90°的位置來接收熒光。大部分的熒光測量裝置都采用此方法(同時常常配上其它方法)。
  2、濾波法:從熒光產生原理可知,熒光的波長大于激發光的波長。我們在探測器前面放一個長通濾波片,它的截至波長稍大于激發光波長。這樣,只有熒光才能被探測器采集。該法的另一個好處是可以濾掉一部分雜散光,但是它也可能濾掉一部分熒光。
  3、時間延遲法:由產生熒光的原理可知,熒光從產生到*消失,它有一個時間過程(即從高能級的非穩態躍遷到低能級的亞穩態或穩態的時間)。不同的物質,這個時間的長短是不一樣的,它們從幾微秒到幾分鐘不等。我們可以給探測器的快門一個延遲時間,讓激發光*消失后開始對熒光采樣。在一些特殊條件,如用反射探針測固體、液體的熒光時,光路無法90°布置,這時需要通過延遲采樣時間來分離出熒光。
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